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物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度GBW13974 物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度 應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài)固態(tài) 基體 主要分析方法掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 定值單位中國計量科學(xué)研究院# 規(guī)格每盒1片
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物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
GBW13973 物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度 應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài)固態(tài) 基體 主要分析方法掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 定值單位中國計量科學(xué)研究院# 規(guī)格每盒1片
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物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
GBW13971 物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度 應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài)固態(tài) 基體 主要分析方法掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 定值單位中國計量科學(xué)研究院# 規(guī)格每盒1片
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物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
GBW13969 物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度 應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài)固態(tài) 基體 主要分析方法掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 定值單位中國計量科學(xué)研究院# 規(guī)格每盒1片
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物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)黏度液
GBW13615 物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)黏度液 應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/黏度 保存條件室溫下密閉避光保存 使用注意事項標(biāo)準(zhǔn)粘度液應(yīng)在定值溫度下使用，用過的標(biāo)準(zhǔn)粘度液不可倒回原瓶中 特征形態(tài)液態(tài) 基體 主要分析方法毛細管基準(zhǔn)黏度計定值# 定值單位國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心#
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